igbt怎么测量好坏数字万用表

IGBT介绍

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极型晶体管)是一种半导体功率开关器件，其结构与晶体管的结构相似，但是它结合了MOSFET的输入特性和BJT的输出特性，具有与MOSFET相当的低输入电阻，与BJT相等的大电流承受能力。

测量IGBT好坏的步骤

在测试IGBT之前，我们需要准备一部数字万用表，以确保所使用的仪器的测量精度，减少误差。以下是测试IGBT的步骤：

将万用表转到电阻测量模式并将测量引线连接到正和负端。

将测试引线连接到IGBT的基极、发射区和集电极。请注意，连接测试引线时必须将IGBT拧下来。

在进行测试之前，确保没有外部电源，测量电源由万用表提供。

进行测试，记录每个测试的电阻值。

对所有电阻测量测试结果进行比较，并取得最小值。

如果测试结果显示手中的IGBT表现良好，则意味着该器件以正确的方式进行开关。在某些情况下，可能需要使用其他测试仪器来确保IGBT器件的良好状态。可以使用示波器测试器，通过测量信号的波形来验证IGBT的工作状态。

常见IGBT故障

如果测试结果未能表明IGBT的良好状态，那么可能会发现下列IGBT故障：

开路故障：当IGBT的输入极不能被激活时，可能出现开路故障。在这种情况下，即时替换该器件才能恢复正常工作状态。

短路故障：如果IGBT内部存在短路，通常表现为测试结果中的电阻值升高。在这种情况下，也需要立即替换故障的IGBT器件。

其它故障：IGBT器件还可能会遭遇其他问题，例如热故障和过电压故障等。在任何这些情况下，为避免潜在的故障，我们需要更换相应的器件以确保系统的正常运行。

总结

IGBT是一种高性能的半导体功率开关器件，其结构相对复杂。在测量IGBT好坏时，需要使用一些专门的测量仪器，如数字万用表以及示波器测试器等。在测试时，应注意所连接的各个测试线的位置，并对测试结果进行适当的比较，从而确保相应的器件均能以正确的方式开关工作。如果测试结果表明有相关的问题，就需要更换相应的器件，以确保系统的正常运转。